HZDZ2643 Tester tal-Mikro-Reżistenza Ultra-kurrent
I. Istruzzjonijiet
It-Tester tal-Mikro-kurrent ta' Reżistenza Ultra-HZDZ2643 (Tester għar-Reżistività tal-wiċċ u r-Reżistività tal-Volum ta' Materjali Insulanti u Materjali Konduttivi Elettrostatiċi) huwa apparat ta' kejl komprensiv b'ħafna għanijiet żviluppat skont l-istandard nazzjonali Ċiniż GB/T 1410-2006 / IEC93:1800Metodi ta 'Test għar-Reżistività tal-Volum u r-Reżistenza tal-wiċċ ta' Materjali Solidi ta 'Iżolament Elettriku. Jista' jintuża wkoll bħala miter ta' reżistenza ultra-għoli jew tester ta' mikro-kurrent.
Dan it-tester huwa mgħammar b'mod speċjali b'funzjoni ta' wiri sinkroniku ta' tieqa doppja-, li turi riżultati tat-test (reżistività jew reżistenza tal-wiċċ) u kundizzjonijiet tat-test (vultaġġ jew kurrent) simultanjament.
Is-sistema tikkonsisti mill-magna ospitanti tat-tester ta 'reżistenza għolja HZDZ2643, elettrodu standard annulari ta' tliet -, kejbils ta 'konnessjoni, u aċċessorji oħra. Il-magna ospitanti hija magħmula primarjament minn provvista ta 'enerġija ta' vultaġġ għoli-, mikro-detector tal-kurrent, u sistema MCU inkorporata.
L-input tat-tastiera diġitali jintuża għall-issettjar tal-parametri u l-konverżjoni tal-funzjoni kollha. L-istrument jista 'jbiddel il-meded awtomatikament jew manwalment, u r-riżultati tat-test jintwerew direttament fuq l-header diġitali. Għandu preċiżjoni għolja tal-kejl, sensittività għolja, stabbiltà tajba, intelliġenza għolja, struttura kompatta, kejl sempliċi u qari konvenjenti.
L-istrument huwa adattat għall-ittestjar tal-valuri ta 'reżistenza ta' prodotti anti-statiċi-bħal żraben anti-statiċi, prodotti tal-plastik u gomma anti{-statiċi, u pavimenti mobbli anti{-statiċi għal kmamar tal-kompjuter-kif ukoll il-kejl tar-reżistenza tal-insulazzjoni ta 'materjali iżolanti u prodotti ta' riċerka u intrapriżi industrijali u elettriċi tal-minjieri xjentifiċi u xjentifiċi. Jista 'jintuża wkoll għall-kejl tal-kurrent dgħajjef, bħal effett fotoelettriku u kejl tal-kurrent skur tal-apparat.
II. Parametri Tekniċi
1. Medda ta' Kejl u Riżoluzzjoni
Firxa tal-Vultaġġ tat-Test UX: 0.1V -100V.
Firxa tat-test tar-reżistenza RX: 1×102Ω -5×1013Ω, Riżoluzzjoni 1/2000,
Firxa kurrenti tat-test IX: 1.5× 10-3A - 10× 10-12A,Riżoluzzjoni 1/2000.
Reżistenza: 1.0 × 102 - 2.0 × 1014Ω, riżoluzzjoni 0.01×102 - 0.01×1014 Ω
Reżistenza: Kv × (1.0 × 102 - 2.0×1014)Ω-ċm, riżoluzzjoni 0.01×103 - 0.01×1014Ω-ċm, K=1-1000.
Reżistenza kwadrata:K□×(1.0×102 - 2.0×1014)Ω/□,riżoluzzjoni 0.01×103 - 0.01×1014 Ω/□,K□=34.5.
2. Diviżjoni tal-Medda u grad ta' preċiżjoni
|
Numru |
Firxa |
Firxa ta 'kejl effettiva |
Vultaġġ tat-test |
Kurrent tat-test |
żball |
|
1 |
103Ω-ċm/□ |
0.100-1.000 |
1.00V |
1.000-0.100 mA |
± 5% FSB |
|
2 |
103Ω-ċm/□ |
01.00-10.00 |
10.0V |
1.000-0.100 mA |
± 3% FSB |
|
3 |
103Ω-ċm/□ |
010.0-450.0 |
100V |
1.000-0.100 mA |
|
|
4 |
106Ω-ċm/□ |
0.450-4.500 |
500V |
1.000-0.100 mA |
|
|
5 |
106Ω-ċm/□ |
04.50-50.00 |
500V |
100.0-010.0μA |
± 5% FSB |
|
6 |
106Ω-ċm/□ |
050.0-500.0 |
500V |
10.00-1.00μA |
|
|
7 |
109Ω-ċm/□ |
0.500-5.000 |
500V |
1.000-0.100μA |
|
|
8 |
109Ω-ċm/□ |
05.00-50.00 |
500V |
100.0-010.0 nA |
± 8% FSB |
|
9 |
109Ω-ċm/□ |
050.0-500.0 |
500V |
10.00-01.00 nA |
|
|
10 |
1012Ω-ċm/□ |
0.500-5.000 |
500V |
1.000-0.100 nA |
|
|
11 |
1012Ω-ċm/□ |
05.00-50.00 |
500V |
100.0-010.0 pA |
± 10% FSB |
3. Dimensjonijiet li jistgħu jitkejlu ta 'Materjali Semikondutturi
Dijametru: Akbar minn jew ugwali għal 90 mm (tul) × 90 mm (wisa'), jew Φ Akbar minn jew ugwali għal 90 mm
Ħxuna: d Inqas minn jew ugwali għal 2.5 mm
4. Provvista ta 'Enerġija
Qawwa: < 15 W
Input: 220 V ± 10%, 50 Hz
5. Kundizzjonijiet tax-Xogħol
Temperatura: 0-35 grad
Umdità Relattiva: akbar minn jew ugwali għal 60%
L-ebda interferenza elettromanjetika qawwija; ma taqsamx l-enerġija ma' tagħmir ta'-frekwenza għolja
6. Dimensjonijiet Outline
Magna Prinċipali: W × H × L=32 ċm × 13 ċm × 32 ċm
Bank tat-Test ta' Vultaġġ Għoli: Φ=100 mm (dijametru tal-bażi) × 80 mm (għoli)